本文的关键要点
・介绍利用“通过实测波形的线性近似分割来计算损耗的示例”中未使用的公式进行计算的方法。
・本文的示例是通过线性近似分割方式计算9种情况下的开关损耗。
SiC MOSFET:各种波形的开关损耗计算示例
在上一篇文章“根据测得波形计算功率损耗示例”中,作为示例,我们将实测波形在线性近似有效范围内进行分割,并使用“通过波形的线性近似分割来计算损耗的方法”中相应的公式,计算了开关损耗和导通损耗,并计算了总损耗。
从本文开始,我们将利用“通过波形的线性近似分割来计算损耗的方法”的表1中给出的所有基于线性近似分割来计算开关损耗的公式,计算1~9种情况(附录A~I)下的开关损耗(示例)。对于使用“根据测得波形计算功率损耗示例”中没有的公式计算开关损耗的情况,请参考下面的链接。另外,使用表2所示的线性近似分割方法来计算导通损耗的公式进行计算的示例,会另行发布,届时请一并参阅。
开关波形的测量方法
通过波形的线性近似分割来计算损耗的方法
根据测得波形计算功率损耗示例
各种波形的开关损耗计算示例
情况1:ID上升、VDS上升波形(附录A)
情况2:ID上升、VDS恒定波形(附录B)
情况3:ID上升、VDS下降波形(附录C)
情况4:ID恒定、VDS上升波形(附录D)
情况5:ID恒定、VDS恒定波形(附录E)
情况6:ID恒定、VDS下降波形(附录F)
情况7:ID下降、VDS上升波形(附录G)
情况8:ID下降、VDS恒定波形(附录H)
情况9:ID下降、VDS下降波形(附录I)
各种波形的导通损耗计算示例